膜厚仪做为一种测量物体厚度的仪器，在很多的行业领域都得到了广泛的应用，尤其是涂层测厚仪，拥有测量精度高，利用探头接触测量方式的优点。
台式的荧光
X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
X-射线膜厚仪的使用注意事项：
1.零点校准
在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准，因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量，零点校准可以消除前次测量有参数的影响，能够降低测量的结果的误差，使测量结果更加准确。
2.基体厚度不宜过薄
在使用膜厚仪对物体进行测量时基体不宜过薄，否则会大程度的影响仪器的测量精度，造成数据结果不准确，影响测量过程的正常进行。
3.物体表面粗糙程度
对于被测物体的表面不宜太过粗糙，因为粗糙的表面容易引起探头接触不到，降低了涂层测厚仪的测量精度，造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑，以保证测量结果的准确性。
X-射线膜厚仪不测量这样办：
检查探头是否连接良好，插到位 查看探头插头插针情况。
检查探头线是否有断的地方重点检查探头接插件处(接头处可以旋钮拧开查看)。
探头频繁大量使用，传感器老化或损坏等。
其它主机线路元件故障咨询公司售后服务或返厂检修。
