镀层测厚仪XRF-2020功能应用及原理

X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析

应用实例图示

（1）单镀层：Ag/xx		（2）合金镀层：Sn-Pb/xx		（3）双镀层：Au/Ni/xx
Ag		Sn-Pb		Au
底材		底材		Ni
				底材
（4）合金镀层：Sn-Bi/xx		（5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx		（6）化学镀层：Ni-P/xx
Sn-Bi		Au		Ni-P
底材		Pd		底材
		Ni
		底材

（1）单镀层：Ag/xx		（2）合金镀层：Sn-Pb/xx		（3）双镀层：Au/Ni/xx
Ag		Sn-Pb		Au
底材		底材		Ni
				底材
（4）合金镀层：Sn-Bi/xx		（5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx		（6）化学镀层：Ni-P/xx
Sn-Bi		Au		Ni-P
底材		Pd		底材
		Ni
		底材

镀层测厚仪XRF-2020功能应用及原理

规格型号如下图所示

三款规格型号如下图所示

镀层测厚仪MicroPXRF-2020

仪器整机*，配置全自动台面，自动雷射对焦,多实现多点自动测量

功能及应用：

测量：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层，不限底材。