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X射线镀层测厚仪想要测量准确这些是*条件
更新时间:2019-12-26 点击次数:1054次
  总所周知:X射线镀层测厚仪是控制和保证产品质量*的检测仪器,在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域有着广泛运用。

  由于 X射线镀层测厚仪采用的是磁感应测厚原理,因此必须严格避免强磁场干扰,避免沾染油污、重尘、潮湿等,不要重撞和摔坏仪器。
  为防止电池漏液,X射线镀层测厚仪长期不使用时应取出电池。当仪器出现低电压提示时应更换电池,更换电池时请注意极性。请使用正规厂家生产的电池,可以避免因电池漏液而导致机器故障。
  在用 X射线镀层测厚仪时,想要测量准确这些是*条件:
  1.基体金属特性
  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
  2.基体金属厚度
  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用方法进行校准。
  3.表面清洁度
  测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
  4.边缘效应
  不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
  5.曲率
  不应在试件的弯曲表面上测量。
  6.读数次数
  通常由于X射线镀层测厚仪的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
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