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Micro Pioneer X-RAY膜厚仪

更新时间:2022-10-25

简要描述:

Micro Pioneer X-RAY膜厚仪
XRF-2020电镀测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

Micro Pioneer X-RAY膜厚仪

韩国微先锋XRF-2020


产品介绍


X射线电镀测厚仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。


XRF-2020镀层测厚仪系列三款型号


分别XRF-2020H镀层测厚仪,XRF-2020L测厚仪,XRF-2020PCB

三款型号镀层测厚仪功能相同,所体现区别是对检测样品高度有以下要求


1. H型:密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度100mm以下

2. L型:密闭式样品室,方便测量样品较小,高度30mm以下

3. PCB型:开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度30mm以下


应用:

检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度


测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀锌镍等

可测元素的范围:Ti(22)~U(92 )

非破坏,非接触式检测分析,快速精确。

可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office

体编辑报告


全系列*设计样品与光径自动对準系统。
标準配备:溶液分析软体,可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差
*2D3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦,配合CCD摄取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告

光学2 0X影像放大功能,更能精确对位。

单位选择:milsuinmmum

优於美制仪器的设计与零件可靠度以及拥有价格与零件的*优势。
仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。

XRF-2020镀层测厚仪


检测电子电镀,五金电镀,LED支架电镀.PCB板电镀,化学镀,,如镀金,镀镍,镀

锌,镀锡,镀钯,镀铜,镀银,镀钯...

可测单层,双层,多层,合金镀层,

测量范围:0.03-35um

测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度

全自动台面,操作非常方便简单


仪器功能

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)

测量样品高度3cm内或10cm内

镀层厚度测试范围:0.03-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间:10-30秒


精度控制

首层:±5%以内

第二层:±8%以内

第三层:±12%以内


XRF2000镀层测厚仪

提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析


XRF-2020测厚仪

只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。

全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台

可测量较大的产品。应用线路板、五金电镀、首饰、端子连接器等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。



可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92

准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能




MicroP XRF-2020电镀测厚仪


仪器功能:

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度


韩国MicroPioneer

XRF-2020测试范围


镀金:0.03-6um

镀钯:0.03-6um

镀镍:0.5-30um

镀锡:0.3-50um

镀银:0.1-50um

镀铬:0.5-30um

镀锌:0.5-30um

镀锌镍合金:0.5-30um


可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等


韩国MicroPioneerXRF-2000测厚仪

原产地:韩国

品牌:Micropioneer微先锋

型号:XRF-2000已升级为XRF-2020


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Micro Pioneer X-RAY膜厚仪XRF-2020系列

三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。

仪器可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材




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