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X射线镀层测厚仪

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X射线镀层测厚仪X-RAY电镀膜厚仪

更新时间：2020-06-19

简要描述：

X射线镀层测厚仪X-RAY电镀膜厚仪
先锋XRF-2020镀层测厚仪
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度；
可通过CCD来观察及选择任意的微小面积以进行镀层厚度的测量
避免直接接触或破坏被测物
测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

发邮件给我们：fhx2030@163.com

X射线镀层测厚仪X-RAY电镀膜厚仪

微先锋XRF-2020镀层测厚仪

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2020

测量精度

首层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

测试范围

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

型号规格

XRF-2020L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

韩国MicroPioneer先锋XRF-2020镀层测厚仪X-RAY膜厚仪

检测电子电镀层厚度,仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量。

X射线镀层测厚仪X-RAY电镀膜厚仪

应用于电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器半导体等行业

可测试各类电镀层，金,银,镍,铜,锡,锌,铬,锌镍合金等

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