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镀层测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2000

更新时间:2020-12-03

简要描述:

镀层测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2000
可测镀铜,镀镍.镀锡,镀锌,镀铬,镀银,镀金,镀锌镍合金等
仪器全自动,自动雷射对焦。

镀层测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2000

镀铜,镀镍.镀锡,镀锌,镀铬,镀银,镀金,镀锌镍合金等

仪器全自动,自动雷射对焦

镀层测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2000如下图所示:

MicropioneerXRF-2020系列测厚仪

原产地:韩国

品牌:Micropioneer微先锋

型号:XRF-2020

型号规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

功能及应用:快速无损检测电镀镀层厚度

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等

合金镀层:铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

Micropioneer镀层测厚仪

仪器均为全自动程控台面及自动雷射对焦配置

整机*

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