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X射线镀层测厚仪

更新时间:2022-11-15

简要描述:

X射线镀层测厚仪主要通过X射线照射在样品上,从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

  XRF-2020X射线镀层测厚仪
  原产地:韩国
  品牌:Micropioneer微先锋
  型号:XRF-2020

  X射线镀层测厚仪原理及应用
  X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
  1、适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。
  2、可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。
  3、应用广泛,适应电镀生产企业,产品来料检测等。

  仪器特点:
  1、全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
  2、多功能、高精度、使用方便快捷。测量时间只需10秒;
  3、可测0.03um-35um,精度可达正负5%以内适用范围广、操作简便。

  功能及应用:
  1、检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚;
  2、可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材;
  3、单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等;
  4、双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等;
  5、多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等;
6、合金镀层:
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等;

  测量精度:
  表层:±5%以内,第二层:±10%以内,第三层:±15%以内

  型号规格
  1、L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
  2、H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
  规格型号如下图

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