更新时间：2021-03-18
X射线测厚仪韩国MicropioneerXRF-2000
快速无损检测电子电镀层厚度
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
X射线测厚仪韩国MicropioneerXRF-2000
仪器整机*，配置全自动台面，自动雷射对焦,多实现多点自动测量
XRF-2000已升为XRF-2020"型号如下图
X光镀层测厚仪韩国XRF-2020H型
原产地：韩国
品牌：Micropioneer微先锋
型号：XRF-2020
适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。
可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。
应用广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。
XRF-2020测厚仪
仪器特点:
全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量
功能及应用：
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
电镀层测厚仪韩国微先锋XRF-2020
测量精度：
表层：±5%以内，第二层：±10%以内，第三层：±15%以内
韩国Miceopioneer
XRF-2020测厚仪型号规格
L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
仪器整机*，配置全自动台面，自动雷射对焦,多实现多点自动测量
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