镀层测厚仪原理先锋XRF-2020膜厚仪

更新时间：2021-04-19

简要描述：

镀层测厚仪原理先锋XRF-2020膜厚仪
快速无损检测电子电镀层厚度
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

镀层测厚仪原理先锋XRF-2020膜厚仪

通过从样品上反射出来的第二次X射线强度来测量镀层等金属镀层的厚度。

金属镀层厚度的测量方法有多种，其中X射线荧光法是无接触无损测量

韩国XRF电镀测厚仪

XRF-2020

可测单双镀层及合金镀层

适应于各类五金电镀,电子连接器端子半导体等行业。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,锌镍合金等镀层。

应用广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。

仪器全自动台面

多点自动测量,自动雷射对焦。

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

XRF-2020测厚仪韩国微先锋

测量电镀层厚度

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金,镀锌,镀钯,镀铬,镀铜,镀银,镀锡,镀镍,镀锌镍合金等

镀层测厚仪原理先锋XRF-2020膜厚仪

快速无损测量电镀层厚度