更新时间：2022-07-15
MicroPXRF-2020测膜仪电镀测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
快速无损检测电子电镀层厚度
X射线电镀测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020
X射线电镀测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020
品牌：微先锋Microp
出厂标识型号：XRF-2020
应用：测量各类五金电镀,电子连接器端子等。
可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。
广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。
仪器
特点:
全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量
仪器全系均为全自动台，自动雷射对焦！
多点自动测量
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
韩国MicroP
功能应用：
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
微先锋X射线测厚仪XRF-2020东莞供应
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
韩国微先锋电镀测厚仪XRF-2020
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
X-RAY膜厚仪，X射线镀层测厚仪，X光测厚仪，韩国电镀层测厚仪，XRF-2000测厚仪，XRF-2020膜厚仪
韩国MicropioneerXRF-2000
X-RAY膜厚仪原理X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来
而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度
进行定性分析和镀层厚度测量.
X射线电镀测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020
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