先锋X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020测厚仪

更新时间：2025-01-06

简要描述：

先锋X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器
半导体等电镀层厚度
快速无损检测电子电镀层厚度
XRF-2020测厚仪韩国Micropioneer膜厚测量仪

先锋X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020测厚仪

快速无损测量

电镀层膜厚,测量电镀层厚度:

测量金,镍,银,锡,锌,铜,锌镍合金等电镀层厚度

型号规格如下图:

先锋X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020测厚仪

XRF-2020测厚仪韩国Micropioneer膜厚测量仪

产品功能：

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材！

1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金，铬，锌镍合金等。

2. 镀层层数：可测5层。

3. 测量产品位置尺寸：标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)

4. 测量时间：通常15秒。

5. H型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。

6 L型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。

7. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

8. 可测厚度范围：通常0.01微米到60微米

先锋X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020测厚仪

方法：通过CCD镜头观察样品仓

快速无损测量

电镀层膜厚,测量电镀层厚度:

测量金,镍,银,锡,锌,铜,锌镍合金等电镀层厚度

单镀层,双镀层,多镀层,锌镍合金镀层均可以测量

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