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电镀膜厚测量X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020

更新时间:2025-01-13

简要描述:

电镀膜厚测量X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器
半导体等电镀层厚度
快速无损检测电子电镀层厚度
XRF-2020测厚仪韩国Micropioneer膜厚测量仪

XRF-2020测厚仪韩国Micropioneer膜厚测量仪

规格如下图

电镀膜厚测量X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020

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产品功能:


1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材!

1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金,铬,锌镍合金等。

2. 镀层层数:可测5层。

3. 测量产品位置尺寸:标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)

4. 测量时间:通常15秒。

5. H型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。

6  L型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。

7. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。

8. 可测厚度范围:通常0.01微米到60微米

电镀膜厚测量X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020


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